FT160 系列X射線螢光鍍層厚度測量儀

FT160 系列X射線螢光鍍層厚度測量儀

FT160 X射線螢光鍍層厚度測量儀

型號 / FT160S/ FT160Sh/ FT160/ FT160h/ FT160L/FT160Lh

概要

新推出的奈米級X-Ray膜厚量測儀FT160系列,配置了聚焦光學系統(Polycapillary)和矽漂移檢測器(SDD),加強樣品的照明系統,不僅操作上更加容易,擁有優異的解析能力,多款式機型可依據鍍層應用不同及樣品大小提供選擇,在量測工作上能夠提供更多的幫助。

特點

1.多毛細管X射線聚焦光學系統:

透過多毛細管將X射線聚焦到小於30um的區域, 利用高強度X光束來做樣品的高精度測量。

 

2.矽漂移檢測器(SDD)作為檢測系統

採用高計數率矽漂移檢測器來實現高精度測量。

 

3.自動測量輔助功能

精確的多點自動測量功能有助於提高測量效率。

 

4.通過簡單的界面和軟體協助功能達到了簡單的操作

使用圖形化的操作介面 , 可以輕鬆地進行日常測量。

 

5.安全意識的儀器設計

採用封閉式外殼設計,可最大輻減少X射線洩漏的風險。
寬大的艙門設計提高了樣品的可視性和儀器的可操作性。