FT150 系列X射線螢光鍍層厚度測量儀

FT150 系列X射線螢光鍍層厚度測量儀

X射線螢光鍍層厚度測量儀

型號 / FT150 系列

概要

新推出的奈米級X-ray膜厚量測儀FT150,配置了聚焦光學系統(Polycapillary)和半導體偵測器。不僅操作上更加容易,還擁有更優異的解析能力。在量測工作上能夠提供多的幫助。

特點

1.微小範圍的高精度量測:

FT150系列照射範圍能達到直徑30微米(FWHM:17um),較以往的FT9500X系列,有其兩倍的X-ray強度。只需要一半的量測時間即可以達到與FT9500X相同的量測精度。

 

2.完整的產品線,可符合各種的應用需要

對應在導線架、連接器等各類電子元件上的微小部份進行超薄厚度的檢測。
對應在大型電路的量測,最大尺寸是600mmx600mm。
對應在基材上鎳鍚鍍層的特殊量測。

 

3.操作容易及無安全顧慮

單手即可操作閘門,更易於取放量測樣品。完全的密封結構設計,不用擔心輻射洩露的可能性。

 

4.便於找取量測位置設計

透過大型觀景窗及內部結構設計,在閘門關起的狀態下,仍可容易的觀察到檢測的部位。

 

5.清晰的樣品影像

配置了高解析的攝影機與高倍率的數位變焦能力,在量測微小物件時,可以輕易找到量測位置。並配置了LED燈來取代以往的鹵素燈,更加的節能與環保。

 

6.新的圖型化操作界面

直覺式的設計,可根據您的需要,設定專屬的界面,讓量測工作可以進行的更流暢。